紅外熱像儀和紫外成像儀的區(qū)別

紅外熱像儀是對(duì)溫度進(jìn)行的一種監(jiān)測(cè)。鏡頭捕獲來(lái)自任何物體的紅外能量，并通過(guò)數(shù)字處理可視化溫度狀態(tài)。由于各種物體在產(chǎn)生熱量的同時(shí)發(fā)射紅外光，因此通過(guò)圖像處理紅外能量，可以可視化溫差。這種可視化的紅外圖像稱(chēng)為紅外熱成像。

紫外成像儀是檢測(cè)紫外輻射，電暈放電是一種局部化的放電現(xiàn)象， 當(dāng)帶電體的局部電壓應(yīng)力超過(guò)臨界值時(shí)，會(huì)使空氣游離而產(chǎn)生電暈放電現(xiàn)象。特別是高壓電力設(shè)備，其常因設(shè)計(jì)、制造、安裝及維護(hù)工作不良產(chǎn)生電暈、閃絡(luò)或電弧。在放電過(guò)程中，空氣中的電子不斷獲得和釋放能量，而當(dāng)電子釋放能量（即放電），便會(huì)放出紫外線。

紅外熱像儀（IR）：檢測(cè)光譜范圍在8-14微米，檢測(cè)來(lái)自電氣故障引起的熱輻射，電流炙熱性型的缺陷。例如：電阻型發(fā)熱缺陷，壓接接觸不好，內(nèi)部缺陷，破損等。

紫外成像儀(UV)：檢測(cè)光譜方位在240-280nm，檢測(cè)電壓強(qiáng)度異常引起的紫外輻射，電暈放電型缺陷。例如：污穢、破損、松弛、jian端、安裝不當(dāng)、缺失、零值低值等。

目前，可用于診斷目的的放電過(guò)程的各種方法中，光學(xué)方法的靈敏度、分辨率和抗干擾能力最好。即采用高靈敏度的紫外線輻射接受器，記錄電暈和表面放電過(guò)程中輻射的紫外線，再加以處理、分析達(dá)到評(píng)價(jià)設(shè)備狀況的目的。電暈放電過(guò)程引起微小的熱量，通常紅外檢測(cè)不能發(fā)現(xiàn)。紅外檢測(cè)通常是在高電阻處產(chǎn)生熱點(diǎn)。紫外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紅外成像儀不能看到，而紅外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紫外成像儀不能看到。因此 UV 檢測(cè)和紅外成像是一種互補(bǔ)性而非沖突性技術(shù)。